频谱分析仪在手机屏幕DDI EMI 测试中应用案例及具体测试方法

　　DDI(Display Driver IC)显示器面板驱动IC.用于将数字化处理的图像信号“扫描”到LCD 或PDP 屏幕上，在三星手机乃至整个移动市场中，显示器的发展趋势正在发生转变，不仅主流企业，连中小型系统供应商目前也将业务向DDI 领域拓展，DDI 技术更多广泛用于移动终端等电子产品，与多媒体移动应用处理器(AP)技术相结合，为更多厂商提供手机模组及多媒体应用处理器。对于电子产品而言，尤其是对数字移动设备EMC 的测试，是国外最重视的实验之一，也是很难通过的一项测试，特别是对移动设备的辐射噪声更难抑制。

　　以下测试案例正是我们在客户中所遇到的EMI 测试应用，在手机EMI 测试中所需要测试的一项工作之一：DDI EMI Noise 测试。例如用RIGOL DSA815 可以对手机屏幕DDI做简单的EMI 定性分析，测试方法及实测效果如图所示：

 

　　图一：测试的连接方法

　　方案配置：

 设备名称  型号及参数  频谱分析仪  RIGOL DSA815 (9KHz-1.5GHz)  近场探头  德国Langer RF2  上位机软件  Ultra spectrum  外置前置放大器  根据需要选择  固定支架  根据需要选择

　　因在测试当中，需将频率范围内的700MHz-1GHz，间隔共计16个频点的峰值显示出来，但DSA815屏幕中最多所显示的峰值表仅为10个，所以需要结合上位机软件进行分析：

　　图二：利用上位机软件进行分析，将个频点测试结果进行读取

　　测试条件要求：

　　1. 频率范围 :700MHz---1GHz

　　2. RBW/VBW: 10KHz

　　3. Sweep Point：2000

　　4. Number Of Sweep：5

　　5. Attenuation： 0dbm

　　6. 测试环境良好，无其他复杂干扰信号

　　测试过程：

　　首先将DSA815恢复为出厂默认设置，连接近场探头，根据测试条件的要求，将起始频率设置为700MHz，终止频率设置为1GHz，扫宽设置为300MHz，前置放大器打开，输入衰减设置为0db，降低仪器本身的底噪，可以探测到更多的辐射信号。扫描次数设置为5次，扫描点2000个。将近场探头放置于手机屏幕顶端的IC处(需将手机屏幕点亮至白色时)。距离大约3mm，依次从上下左右进行扫描，测试结果即可在上位机软件上读取16个频点的峰值结果显示。

　　过程总结：

　　此案例中所应用的正是频谱分析仪最典型的一种应用：EMI预测试。可以对EMI做定性的分析，从而逐步改善我们的产品，达到相应的测试标准。减少到第三方测试的成本和节省更多的时间。