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披露卓立

发布日期:2014-04-16 来源:网络
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  反射、透射这两种模式是光谱测量的基本手段教育装备采购网。实现这两种模式的光谱测量,通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。

  卓立为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备。利用这些配置丰富的设备,就可以搭建各种常见的光谱测量系统。

  透 射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反 射率的光谱测试。

  系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统

  ■ OmniAS透射、反射/吸收光谱测量系统

  

 

(本文来源:网络 责任编辑:expert)

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