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泰克测试技术助力英特尔实现创新

发布日期:2007-10-24 来源:网络
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全球领先的测试测量和监测仪器供应商泰克公司日前宣布,它在旧金山举行的英特尔开发者论坛(IDF)上全面演示其为英特尔QuickPath互连和其它相关总线提供的独特的测试测量功能。用于服务器、工作站和高端台式电脑的英特尔QuickPath架构为支持下一代英特尔处理器和平台提供了更加杰出的性能、带宽和可靠性。 
  在IDF上亮相的QuickPath互连将提供领先的互连带宽,用来激发英特尔未来几代多核微处理器的性能。除了新的QuickPath互连之外,新系统还将采用新的PCIe Gen2总线及最新的DDR3技术。这对查看高速串行和并行总线接口及验证新系统性能至关重要。

  在740号展台上,泰克展示了完整的解决方案,用来帮助工程师验证对英特尔QuickPath互连及DDR3和PCIe Gen2接口进行同步监测。此次的展示泰克提供了了配有用于PCIe 1.x和2.0的TLA7S16新模块的TLA7000主机,以及一张为捕获和分析QuickPath互连和最新DDR3总线所特制的采集卡。这个完整的逻辑分析仪解决方案可以迅速查看下一代系统的各方面信息,从而降低了风险并缩短了产品上市时间。

  泰克仪器事业部高级副总裁Craig Overhage表示:“泰克与英特尔有着长期的合作关系,这使我们能够为英特尔及整个计算机行业价值链提供前期测试技术。我们为测试QuickPath互连而开发的逻辑分析技术已经帮助英特尔及该技术的授权公司加快了产品上市时间。”

  除在740号展台展示了QuickPath互连测试外,泰克还在316号展台展示了用于PCI-Express 1.x和2.0的最新测试仪器和软件。

 

(本文来源:网络 责任编辑:expert)

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