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一种超高分辨率的磁力显微镜探针的制备方法

发布日期:2011-10-26 来源:网络
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申请号/专利号: 200810228929
一种超高分辨率的磁力显微镜探针的制备方法,属于材料技术领域,包括以下步骤:(1)将无涂层Si探针用超声波清洗;(2)将经过清洗的无涂层Si探针固定在磁控溅射设备的样品腔中,在磁控溅射设备的样品腔中通入惰性气体a;(3)将Fe和Pt共溅射到无涂层Si探针表面;(4)在惰性气氛下加热到500~800℃进行热处理,使FePt合金涂层转化为L1↓[0]-FePt合金涂层。本发明制备的磁力显微镜探针可以大幅度提高磁力显微镜的分辨率,横向分辨率已经达到了10纳米以内;本发明的方法简便易行;在对纳米磁性材料的表征、深化研究磁性纳米结构等领域具有重要意义。
申请日:2008年11月21日
公开日:2009年04月08日
授权公告日:2011年01月19日
申请人/专利权人:东北大学
申请人地址:辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号
发明设计人:秦高梧;裴文利;任玉平
专利代理机构:沈阳东大专利代理有限公司
代理人:梁焱
专利类型:发明专利
分类号:C23C14/35;C23C14/02;C23C14/58;C23C14/54;G12B21/10
(本文来源:网络 责任编辑:expert)

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