一种真空原子力显微镜及其使用方法
发布日期:2011-10-24 来源:网络
申请号/专利号: 200910030522
本发明公开了一种真空原子力显微镜及其使用方法,属于微观形貌检测设备领域,其包括电子束发射装置、二次电子探测器、带悬臂梁的探针、压电陶瓷扫描器和反馈控制器。工作时,将电子束照射于探针悬臂梁上,由于探针与样品原子之间的作用力而引起悬臂梁的形变,将产生二次电子信号的变化,通过对该信号进行反馈可控制针尖和样品之间处于恒定作用力,针尖在样品表面逐点扫描,可对样品表面形貌成像。本发明无需引入目前常用的光杠杆系统,克服了常规原子力显微镜应用于真空环境下带来的设计困难,综合两种纳米材料表征手段即原子力显微镜和电子显微镜的优势,可实现对材料从毫米尺度到亚纳米尺度精度的连续测量。
| 申请日: | 2009年04月14日 |
| 公开日: | 2010年01月13日 |
| 授权公告日: | |
| 申请人/专利权人: | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 申请人地址: | 江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区若水路398号 |
| 发明设计人: | 秦华;刘争晖;钟海舰;樊英民;徐科 |
| 专利代理机构: | 南京苏科专利代理有限责任公司 |
| 代理人: | 陈忠辉 |
| 专利类型: | 发明专利 |
| 分类号: | G01N13/16;G12B21/08 |
(本文来源:网络 责任编辑:expert)
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