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一种真空原子力显微镜及其使用方法

发布日期:2011-10-24 来源:网络
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申请号/专利号: 200910030522
本发明公开了一种真空原子力显微镜及其使用方法,属于微观形貌检测设备领域,其包括电子束发射装置、二次电子探测器、带悬臂梁的探针、压电陶瓷扫描器和反馈控制器。工作时,将电子束照射于探针悬臂梁上,由于探针与样品原子之间的作用力而引起悬臂梁的形变,将产生二次电子信号的变化,通过对该信号进行反馈可控制针尖和样品之间处于恒定作用力,针尖在样品表面逐点扫描,可对样品表面形貌成像。本发明无需引入目前常用的光杠杆系统,克服了常规原子力显微镜应用于真空环境下带来的设计困难,综合两种纳米材料表征手段即原子力显微镜和电子显微镜的优势,可实现对材料从毫米尺度到亚纳米尺度精度的连续测量。
申请日:2009年04月14日
公开日:2010年01月13日
授权公告日:
申请人/专利权人:苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请人地址:江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区若水路398号
发明设计人:秦华;刘争晖;钟海舰;樊英民;徐科
专利代理机构:南京苏科专利代理有限责任公司
代理人:陈忠辉
专利类型:发明专利
分类号:G01N13/16;G12B21/08
  点此查看跟该专利相关的 主附图\公开说明书\授权说明书
(本文来源:网络 责任编辑:expert)

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