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能量色散X荧光分析仪

发布日期:2011-10-18 来源:网络
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申请号/专利号: 200920068395
本实用新型公开了一种能量色散X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及测样装置;所述信号探测装置包括探测器、放大器以及模数转换器;所述激发光源装置中设有低功率X射线发生器和仪器校正片,所述的仪器校正片与被测样品紧密贴近并处于低功率X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,在不测量样品时进行自动测量所述校正片,自动计算出校正系数,以达到自动校正的目的。本实用新型带有的样品自旋装置不仅能够消除样品表面不均匀产生的误差,而且能够自动校正漂移系数,具有使用方便、成本低、精度高、测量时间短的优点,是钢铁、水泥、有色矿山、地质、耐火材料等行业快速分析的理想分析仪器。

申请日:2009年03月04日
公开日:
授权公告日:2009年12月30日
申请人/专利权人:上海精谱仪器有限公司
申请人地址:上海市嘉定区马陆镇嘉新公路1135号
发明设计人:郭晓明;苏建平;时玲
专利代理机构:
代理人:陈学雯
专利类型:实用新型专利
分类号:G01N23/223
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(本文来源:网络 责任编辑:expert)

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