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X射线分析仪器

发布日期:2011-10-18 来源:网络
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申请号/专利号: 200880007232
一种用于执行结晶样本的X射线衍射(XRD)和X射线荧光(XRF)分析的装置。样本保持器位于可抽空腔室内。X射线荧光源和分离的X射线衍射源安装在可抽空腔室内。还提供XRF检测装置,用以检测因来自X射线荧光源的X射线照射而从结晶样本的表面放射出的二次X射线。随后提供XRD检测装置以检测已被结晶样本衍射的具有特征波长的X射线。提供可移动XRD支承组件,其包括配置成安装XRD源以用于XRD源和样本保持器之间的相对移动的第一部分以及配置成安装XRD检测装置以用于XRD检测装置和样本保持器之间的相对移动的第二部分。

申请日:2008年02月28日
公开日:2010年03月10日
授权公告日:
申请人/专利权人:赛默飞世尔科技公司
申请人地址:美国马萨诸塞州
发明设计人:R·耶勒帕帝;P-Y·奈格勒;M·邦佐
专利代理机构:上海专利商标事务所
代理人:张兰英 黄珏
专利类型:发明专利
分类号:G01N23/223;G01N23/20;G01N23/22
  点此查看跟该专利相关的 主附图\公开说明书\授权说明书

(本文来源:网络 责任编辑:expert)

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